1 产品概述 

闪存芯片智能测试系统YC系列产品是一种可以量身定制测试方案的综合闪 存测试系统，系统并行测试闪存颗粒数量最多可达8颗。 闪存芯片智能测试系统支持多种测试pattern及自定义测试参 数功能，提供一键式基础测试流程、高灵活性的实验测试及高阶测试流程，可以 实现闪存颗粒剩余 寿命预测、实测、数据保持和读干扰等多种功能性测试，帮 助用户检验闪存颗粒的可靠性状态，完成测试后可以方便快捷地一键导出测试报 告，为用户提供最直观的图形化测试数据，为闪存颗粒等级分类和应用提供最精 确的参考依据，并基于闪存颗粒品质检测结果实现智能分级。

2 产品规范 

※ 测试依据符合JEDEC Stand No.218: 固态技术协会 B-2016 Solid-State Drive(SSD) Requirements And Endurance Test Motho； 

※ 测试依据符合JEDEC Standard No.47 NVCE:固态技术协会Stress-Test Driven Qualification of Integrated Circuits； 

※ 测试板设计规格符合工业级测试温度环境要求；

3 产品样式

4、设备组成

5、产品功能

6、技术参数